更新日期：2025-06-18
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過薄膜介質(zhì)損耗儀測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
在科技日新月異的今天，各種高精尖的測(cè)量?jī)x器層出不窮，為我們的科研和工業(yè)生產(chǎn)提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。今天，我們要為大家介紹的，正是一款在材料科學(xué)領(lǐng)域備受矚目的“明星"——介質(zhì)損耗測(cè)試儀。這款儀器以其功能和精確的測(cè)量能力，在揭示材料電學(xué)性能的奧秘方面發(fā)揮著不可替代的作用。無論你是材料科學(xué)家、電子工程師，還是對(duì)新技術(shù)充滿好奇的探索者，相信介質(zhì)損耗測(cè)試儀都會(huì)成為你探索未知世界的有力幫手。
儀器簡(jiǎn)介
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過薄膜介質(zhì)損耗儀測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
儀器用途
薄膜介質(zhì)損耗儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
參考標(biāo)準(zhǔn)
u GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；
u ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法；
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。
技術(shù)參數(shù)
| 1 | 信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
| 2 | 采樣精度 | 11BIT |
| 3 | 測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
| 4 | 分辨率 | 0.1 |
| 5 | 測(cè)量工作誤差 | <5% |
| 6 | 電感測(cè)量范圍 | 分辨率0.1nH |
| 7 | 電感測(cè)量誤差 | <3% |
| 8 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF |
| 9 | 電容直接測(cè)量范圍 | 1pF～2.5uF |
| 10 | 調(diào)諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 11 | 諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 |
| 12 | 合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 |
| 13 | LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct等 |
| 14 | 介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 |
| 15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
| 16 | 材料測(cè)試厚度 | 0.1mm-10mm |
| 17 | 技術(shù) | 儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置，直接讀值。 |
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